ব্র্যান্ড নাম: | PRECISE INSTRUMENT |
MOQ: | ১টি ইউনিট |
বিতরণ সময়: | ২-৮ সপ্তাহ |
অর্থ প্রদানের শর্তাবলী: | টি/টি |
10Hz-1MHz সেমিকন্ডাক্টর ডিভাইস সি-ভি টেস্টিং সিস্টেম
ক্যাপাসিট্যান্স-ভোল্টেজ (সি-ভি) পরিমাপটি ব্যাপকভাবে অর্ধপরিবাহী পরামিতিগুলির চরিত্রগত করার জন্য ব্যবহৃত হয়, বিশেষত এমওএস ক্যাপাসিটার (এমওএস ক্যাপস) এবং এমওএসএফইটি কাঠামোগুলিতে।ধাতু-অক্সাইড-অর্ধপরিবাহী (এমওএস) কাঠামোর ধারণক্ষমতা প্রয়োগ করা ভোল্টেজের একটি ফাংশনভোল্টেজের সাথে ক্যাপাসিটেন্সের পরিবর্তনকে চিত্রিত করে এমন বক্ররেখাকে সি-ভি বক্ররেখা (বা সি-ভি বৈশিষ্ট্য) বলা হয়। এই পরিমাপটি সমালোচনামূলক পরামিতিগুলির সুনির্দিষ্ট নির্ধারণকে সক্ষম করে, যার মধ্যে রয়েছেঃ
·অক্সাইড স্তর বেধ (ডক্স)
·সাবস্ট্র্যাট ডোপিং ঘনত্ব (Nn)
·অক্সাইডে মোবাইল চার্জের ঘনত্ব (Q1)
·স্থির অক্সাইড চার্জ ঘনত্ব (Qfc) ।
পণ্যের বৈশিষ্ট্য
▪বিস্তৃত ফ্রিকোয়েন্সি রেঞ্জঃ 10 Hz ≈ 1 MHz, ক্রমাগত নিয়মিত ফ্রিকোয়েন্সি পয়েন্ট সহ।
▪উচ্চ নির্ভুলতা এবং বিস্তৃত গতিশীল পরিসীমাঃ 0.1% নির্ভুলতার সাথে 0 V3500 V বিভাজন পরিসীমা।
▪অন্তর্নির্মিত সিভি টেস্টিংঃ ইন্টিগ্রেটেড অটোমেটেড সিভি টেস্টিং সফটওয়্যার সি-ভি (ক্যাপাসিটেন্স-ভোল্টেজ), সি-টি (ক্যাপাসিটেন্স-টাইম) এবং সি-এফ (ক্যাপাসিটেন্স-ফ্রিকোয়েন্সি) সহ একাধিক ফাংশন সমর্থন করে।
▪IV পরীক্ষার সামঞ্জস্যতাঃ একই সাথে ভাঙ্গন বৈশিষ্ট্য এবং ফুটো বর্তমান আচরণ পরিমাপ করে।
▪রিয়েল-টাইম কার্ভ প্লটিংঃ স্বজ্ঞাত সফটওয়্যার ইন্টারফেস রিয়েল-টাইম মনিটরিংয়ের জন্য পরীক্ষার ডেটা এবং বক্ররেখা ভিজ্যুয়ালাইজ করে।
▪উচ্চ স্কেলযোগ্যতাঃ মডুলার সিস্টেম ডিজাইন পরীক্ষার প্রয়োজনের উপর ভিত্তি করে নমনীয় কনফিগারেশন সক্ষম করে।
পণ্যের পরামিতি
পয়েন্ট |
পরামিতি |
পরীক্ষার ফ্রিকোয়েন্সি |
১০ হার্জ-১ মেগাহার্টজ |
ফ্রিকোয়েন্সি আউটপুট নির্ভুলতা |
±০.০১% |
মৌলিক নির্ভুলতা |
±0.5% |
এসি পরীক্ষার সংকেত স্তর |
10mV~2Vrms (1m Vrms রেজোলিউশন) |
ডিসি পরীক্ষার সংকেত স্তর |
10mV~2V (1m Vrms রেজোলিউশন ডিগ্রী) |
আউটপুট প্রতিবন্ধকতা |
১০০Ω |
ক্যাপাসিটেন্স টেস্ট রেঞ্জ |
0.01pF ¥ 9.9999F |
ভিজিএসের পক্ষপাতিত্ব পরিসীমা |
0 - ±30V ((বিকল্প) |
ভিডিএস বায়াস রেঞ্জ |
৩০০ ভোল্ট-১২০০ ভোল্ট |
পরীক্ষার পরামিতি |
ডায়োডঃসিজে,আইআর,ভিআর MOSFET:Ciss,Coss,Crss,Rg,IDSS,IGSS,BVDSS IGBT:Cies,Coes,Cres,ICES,IGES,VBRCES |
ইন্টারফেস |
RS232,LAN |
প্রোগ্রামিং প্রোটোকল |
এসসিপিআই, ল্যাবভিউ |
অ্যাপ্লিকেশন
▪ন্যানোমেটরিয়ালঃ প্রতিরোধ ক্ষমতা, ক্যারিয়ার গতিশীলতা, ক্যারিয়ার ঘনত্ব, হল ভোল্টেজ
▪নমনীয় উপকরণঃটেনসিল / টর্শনাল / বন্ডিং টেস্ট, ভোল্টেজ-টাইম (ভি-টি), বর্তমান-টাইম (আই-টি), প্রতিরোধ-টাইম (আর-টি), প্রতিরোধ ক্ষমতা, সংবেদনশীলতা, জংশন ক্ষমতা।
▪ডিস্ক্রিট ডিভাইসঃ বিভিডিএসএস, আইজিএসএস, আইডিএসএস, ভিজিএস ((থ), সিআইএসএস/সিএসএস/সিআরএসএস (ইনপুট/আউটপুট/রিভার্স) ।
▪ফোটোডেটেক্টরঃ ডার্ক স্ট্রিম (আইডি), জংশন ক্যাপাসিটি (সিটি), রিভার্স ব্রেকডাউন ভোল্টেজ (ভিবিআর), রেসপন্সিবিলিটি (আর) ।
▪পেরোভস্কিট সোলার সেলঃ ওপেন সার্কিট ভোল্টেজ (ভিওসি), শর্ট সার্কিট বর্তমান (আইএসসি), সর্বোচ্চ শক্তি (পিম্যাক্স), সর্বোচ্চ শক্তি ভোল্টেজ (ভিম্যাক্স), সর্বোচ্চ শক্তি বর্তমান (আইম্যাক্স), ফিল ফ্যাক্টর (এফএফ), দক্ষতা (η),সিরিজ প্রতিরোধ (Rs), শান্ট প্রতিরোধের (আরএসএইচ), জংশন ক্ষমতা।
▪এলইডি/ওএলইডি/কিউএলইডিঃ সামনের ভোল্টেজ (ভিএফ), থ্রেশহোল্ড বর্তমান (আইথ), বিপরীত ভোল্টেজ (ভিআর), বিপরীত বর্তমান (আইআর), জংশন ক্ষমতা।
ব্র্যান্ড নাম: | PRECISE INSTRUMENT |
MOQ: | ১টি ইউনিট |
প্যাকেজিংয়ের বিবরণ: | শক্ত কাগজ |
অর্থ প্রদানের শর্তাবলী: | টি/টি |
10Hz-1MHz সেমিকন্ডাক্টর ডিভাইস সি-ভি টেস্টিং সিস্টেম
ক্যাপাসিট্যান্স-ভোল্টেজ (সি-ভি) পরিমাপটি ব্যাপকভাবে অর্ধপরিবাহী পরামিতিগুলির চরিত্রগত করার জন্য ব্যবহৃত হয়, বিশেষত এমওএস ক্যাপাসিটার (এমওএস ক্যাপস) এবং এমওএসএফইটি কাঠামোগুলিতে।ধাতু-অক্সাইড-অর্ধপরিবাহী (এমওএস) কাঠামোর ধারণক্ষমতা প্রয়োগ করা ভোল্টেজের একটি ফাংশনভোল্টেজের সাথে ক্যাপাসিটেন্সের পরিবর্তনকে চিত্রিত করে এমন বক্ররেখাকে সি-ভি বক্ররেখা (বা সি-ভি বৈশিষ্ট্য) বলা হয়। এই পরিমাপটি সমালোচনামূলক পরামিতিগুলির সুনির্দিষ্ট নির্ধারণকে সক্ষম করে, যার মধ্যে রয়েছেঃ
·অক্সাইড স্তর বেধ (ডক্স)
·সাবস্ট্র্যাট ডোপিং ঘনত্ব (Nn)
·অক্সাইডে মোবাইল চার্জের ঘনত্ব (Q1)
·স্থির অক্সাইড চার্জ ঘনত্ব (Qfc) ।
পণ্যের বৈশিষ্ট্য
▪বিস্তৃত ফ্রিকোয়েন্সি রেঞ্জঃ 10 Hz ≈ 1 MHz, ক্রমাগত নিয়মিত ফ্রিকোয়েন্সি পয়েন্ট সহ।
▪উচ্চ নির্ভুলতা এবং বিস্তৃত গতিশীল পরিসীমাঃ 0.1% নির্ভুলতার সাথে 0 V3500 V বিভাজন পরিসীমা।
▪অন্তর্নির্মিত সিভি টেস্টিংঃ ইন্টিগ্রেটেড অটোমেটেড সিভি টেস্টিং সফটওয়্যার সি-ভি (ক্যাপাসিটেন্স-ভোল্টেজ), সি-টি (ক্যাপাসিটেন্স-টাইম) এবং সি-এফ (ক্যাপাসিটেন্স-ফ্রিকোয়েন্সি) সহ একাধিক ফাংশন সমর্থন করে।
▪IV পরীক্ষার সামঞ্জস্যতাঃ একই সাথে ভাঙ্গন বৈশিষ্ট্য এবং ফুটো বর্তমান আচরণ পরিমাপ করে।
▪রিয়েল-টাইম কার্ভ প্লটিংঃ স্বজ্ঞাত সফটওয়্যার ইন্টারফেস রিয়েল-টাইম মনিটরিংয়ের জন্য পরীক্ষার ডেটা এবং বক্ররেখা ভিজ্যুয়ালাইজ করে।
▪উচ্চ স্কেলযোগ্যতাঃ মডুলার সিস্টেম ডিজাইন পরীক্ষার প্রয়োজনের উপর ভিত্তি করে নমনীয় কনফিগারেশন সক্ষম করে।
পণ্যের পরামিতি
পয়েন্ট |
পরামিতি |
পরীক্ষার ফ্রিকোয়েন্সি |
১০ হার্জ-১ মেগাহার্টজ |
ফ্রিকোয়েন্সি আউটপুট নির্ভুলতা |
±০.০১% |
মৌলিক নির্ভুলতা |
±0.5% |
এসি পরীক্ষার সংকেত স্তর |
10mV~2Vrms (1m Vrms রেজোলিউশন) |
ডিসি পরীক্ষার সংকেত স্তর |
10mV~2V (1m Vrms রেজোলিউশন ডিগ্রী) |
আউটপুট প্রতিবন্ধকতা |
১০০Ω |
ক্যাপাসিটেন্স টেস্ট রেঞ্জ |
0.01pF ¥ 9.9999F |
ভিজিএসের পক্ষপাতিত্ব পরিসীমা |
0 - ±30V ((বিকল্প) |
ভিডিএস বায়াস রেঞ্জ |
৩০০ ভোল্ট-১২০০ ভোল্ট |
পরীক্ষার পরামিতি |
ডায়োডঃসিজে,আইআর,ভিআর MOSFET:Ciss,Coss,Crss,Rg,IDSS,IGSS,BVDSS IGBT:Cies,Coes,Cres,ICES,IGES,VBRCES |
ইন্টারফেস |
RS232,LAN |
প্রোগ্রামিং প্রোটোকল |
এসসিপিআই, ল্যাবভিউ |
অ্যাপ্লিকেশন
▪ন্যানোমেটরিয়ালঃ প্রতিরোধ ক্ষমতা, ক্যারিয়ার গতিশীলতা, ক্যারিয়ার ঘনত্ব, হল ভোল্টেজ
▪নমনীয় উপকরণঃটেনসিল / টর্শনাল / বন্ডিং টেস্ট, ভোল্টেজ-টাইম (ভি-টি), বর্তমান-টাইম (আই-টি), প্রতিরোধ-টাইম (আর-টি), প্রতিরোধ ক্ষমতা, সংবেদনশীলতা, জংশন ক্ষমতা।
▪ডিস্ক্রিট ডিভাইসঃ বিভিডিএসএস, আইজিএসএস, আইডিএসএস, ভিজিএস ((থ), সিআইএসএস/সিএসএস/সিআরএসএস (ইনপুট/আউটপুট/রিভার্স) ।
▪ফোটোডেটেক্টরঃ ডার্ক স্ট্রিম (আইডি), জংশন ক্যাপাসিটি (সিটি), রিভার্স ব্রেকডাউন ভোল্টেজ (ভিবিআর), রেসপন্সিবিলিটি (আর) ।
▪পেরোভস্কিট সোলার সেলঃ ওপেন সার্কিট ভোল্টেজ (ভিওসি), শর্ট সার্কিট বর্তমান (আইএসসি), সর্বোচ্চ শক্তি (পিম্যাক্স), সর্বোচ্চ শক্তি ভোল্টেজ (ভিম্যাক্স), সর্বোচ্চ শক্তি বর্তমান (আইম্যাক্স), ফিল ফ্যাক্টর (এফএফ), দক্ষতা (η),সিরিজ প্রতিরোধ (Rs), শান্ট প্রতিরোধের (আরএসএইচ), জংশন ক্ষমতা।
▪এলইডি/ওএলইডি/কিউএলইডিঃ সামনের ভোল্টেজ (ভিএফ), থ্রেশহোল্ড বর্তমান (আইথ), বিপরীত ভোল্টেজ (ভিআর), বিপরীত বর্তমান (আইআর), জংশন ক্ষমতা।