1200V/100A সেমিকন্ডাক্টর প্যারামিটার বিশ্লেষক SPA6100 সেমিকন্ডাক্টর টেস্ট সিস্টেম

এসপিএ 6100 সেমিকন্ডাক্টর প্যারামিটার বিশ্লেষক উচ্চ নির্ভুলতা, বিস্তৃত পরিমাপ পরিসীমা, দ্রুত নমনীয়তা এবং শক্তিশালী সামঞ্জস্যতা সহ সুবিধাগুলি সরবরাহ করে।এই পণ্য DC বর্তমান-ভোল্টেজ (I-V) এর একযোগে পরীক্ষা সমর্থন করে, ক্যাপাসিট্যান্স-ভোল্টেজ (সি-ভি), এবং উচ্চ বর্তমান/উচ্চ ভোল্টেজ অবস্থার অধীনে pulsed I-V বৈশিষ্ট্য।

মডুলার স্ট্রাকচারাল ডিজাইনের সাথে এটি ব্যবহারকারীদের পরীক্ষার প্রয়োজনীয়তার ভিত্তিতে সিস্টেম আপগ্রেডের জন্য পরিমাপ ইউনিটগুলি নমনীয়ভাবে নির্বাচন এবং কনফিগার করতে দেয়।বিশ্লেষক 1200V ভোল্টেজ পর্যন্ত পরিমাপ সমর্থন করে, 100A উচ্চ বর্তমান, এবং 1pA নিম্ন বর্তমান রেজোলিউশন, এছাড়াও 10kHz থেকে 1MHz পরিসরের মধ্যে মাল্টি-ফ্রিকোয়েন্সি এসি ক্যাপাসিটেন্স পরিমাপ সক্ষম করে।

এটি একটি ডেডিকেটেড সেমিকন্ডাক্টর প্যারামিটার টেস্টিং সফটওয়্যার দিয়ে সজ্জিত, এটি ইন্টারেক্টিভ ম্যানুয়াল অপারেশন এবং প্রোব স্টেশনগুলির সাথে সংহত স্বয়ংক্রিয় অপারেশন উভয়ই সমর্থন করে।সিস্টেম পরিমাপ সেটআপ থেকে সমগ্র কর্মপ্রবাহ streamlines, কার্যকরকরণ, ফলাফল বিশ্লেষণ এবং তথ্য পরিচালনার জন্য, দক্ষ এবং পুনরাবৃত্তিযোগ্য ডিভাইস চরিত্রগতকরণ সক্ষম করে।এটি উচ্চ/নিম্ন তাপমাত্রার পরীক্ষার প্রয়োজনীয়তা পূরণের জন্য তাপমাত্রা চেম্বার এবং তাপ নিয়ন্ত্রণ মডিউলগুলির সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণ.

পণ্যের বৈশিষ্ট্য

▪30μV থেকে 1200V, 1pA থেকে 100A বিস্তৃত পরিসীমা পরিমাপের ক্ষমতা
▪উচ্চ পরিমাপ নির্ভুলতা, পুরো পরিমাপ পরিসীমা জুড়ে 0.03% পর্যন্ত অর্জন
▪সরাসরি কল এবং সরলীকৃত পরীক্ষার জন্য অন্তর্নির্মিত স্ট্যান্ডার্ড ডিভাইস পরীক্ষার প্রোগ্রাম
▪স্বয়ংক্রিয় রিয়েল-টাইম প্যারামিটার এক্সট্রাকশন, ডেটা প্লটিং এবং বিশ্লেষণ ফাংশন
▪পুনরায় তারের প্রয়োজন ছাড়াই সি-ভি এবং আই-ভি পরিমাপের মধ্যে দ্রুত স্যুইচিং
▪শক্তিশালী সামঞ্জস্যের সাথে নমনীয় ফিক্সচার কাস্টমাইজেশন সমাধান
▪বিনামূল্যে পিসি-ভিত্তিক সফটওয়্যার এবং এসসিপিআই কমান্ড সেট প্রদান করা হয়

পণ্যের পরামিতি

অ্যাপ্লিকেশন

▪ন্যানোমেটরিয়ালঃ প্রতিরোধ ক্ষমতা, ক্যারিয়ার গতিশীলতা, ক্যারিয়ার ঘনত্ব, হল ভোল্টেজ

▪নমনীয় উপকরণঃটেনসিল / টর্শনাল / বন্ডিং টেস্ট, ভোল্টেজ-টাইম (ভি-টি), বর্তমান-টাইম (আই-টি), প্রতিরোধ-টাইম (আর-টি), প্রতিরোধ ক্ষমতা, সংবেদনশীলতা

▪আইসি চিপঃ ওপেন/শর্ট ((ও/এস) টেস্ট, ইনপুট হাই/নিম্ন কারেন্ট (আইআইএইচ/আইআইএল), আউটপুট হাই/নিম্ন ভোল্টেজ (ভিওএইচ/ভিওএল), আই/ও পিন আই-ভি কার্ভ

▪ডিস্ক্রিট ডিভাইসঃবিভিডিএসএস,আইজিএসএস,আইডিএসএস,ভিজিএস ((থ),আরডিসন,সিআইএসএস/সিএসএস/সিআরএসএস (ইনপুট/আউটপুট/রিভার্স ট্রান্সফার ক্যাপাসিটি),আউটপুট/ট্রান্সফার/সি-ভি কার্ভ।

▪ফোটোডেটেক্টরঃ ডার্ক স্ট্রিম (আইডি), জংশন ক্যাপাসিটি (সিটি), রিভার্স ব্রেকডাউন ভোল্টেজ (ভিবিআর), রেসপন্সিবিলিটি (আর) ।

▪পেরোভস্কিট সোলার সেলঃ ওপেন সার্কিট ভোল্টেজ (ভিওসি), শর্ট সার্কিট বর্তমান (আইএসসি), সর্বোচ্চ শক্তি (পিম্যাক্স), সর্বোচ্চ শক্তি ভোল্টেজ (ভিম্যাক্স), সর্বোচ্চ শক্তি বর্তমান (আইম্যাক্স), ফিল ফ্যাক্টর (এফএফ), দক্ষতা (η),সিরিজ প্রতিরোধ (Rs), শন্ট প্রতিরোধের (Rsh)

▪এলডি/এলইডি/ওএলইডিঃঅপারেটিং বর্তমান (আইওপি), অপটিক্যাল পাওয়ার (পিওপিটি), ফরোয়ার্ড ভোল্টেজ (ভিএফ),থ্রেশহোল্ড কারেন্ট (আইথ), রিভার্স ভোল্টেজ (ভিআর), রিভার্স কারেন্ট (আইআর),লাইট কারেন্ট-ভোল্টেজ (এলআইভি) এবং আইভি-লুমিনেন্স (আইভিএল) কার্ভ

▪ সেন্সর/মেম্রিস্টরঃভোল্টেজ-টাইম (ভি-টি), বর্তমান-টাইম (আই-টি), প্রতিরোধ-টাইম (আর-টি),ডিসি/পলস/এসি আই-ভি পরীক্ষা